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内容摘要：
C测试仪3506-10对应1MHz测试， 低容量，，日置功率分析仪，高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量● 根据BIN的测定区分容量测量参数? C(电容)，D(损耗系数tanδ)，房山区日置， Q (1/tan δ)测量范围?......
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