如何檢測元件有老化的現象？
半導體元件有許多參數都很重要，有些參數如：放大倍率，觸發參數，閂扣，保持參數，崩潰電壓等，是提供給工程師在設計電路時的依據，在檢測元件是否有老化的現象時，僅須測量導通參數及漏電流二項即可。將量測的數據與其出廠規格相比較，就可判定元件的好壞或退化的百分比。
何謂半導體元件的參數？對元件使用上有何重要性？
中大功率的元件僅在功能上的完好是不夠的，因其必須承受規格上的
便攜式IGBT測試儀廠家
如何檢測元件有老化的現象？
半導體元件有許多參數都很重要，有些參數如：放大倍率，觸發參數，閂扣，保持參數，崩潰電壓等，是提供給工程師在設計電路時的依據，在檢測元件是否有老化的現象時，僅須測量導通參數及漏電流二項即可。將量測的數據與其出廠規格相比較，就可判定元件的好壞或退化的百分比。
何謂半導體元件的參數？對元件使用上有何重要性？
中大功率的元件僅在功能上的完好是不夠的，因其必須承受規格上的電壓與電流，在某條件下，承受度的數據便稱為此元件的參數。若元件的工作條件超過其參數數據，元件可能會立刻燒毀或造成性的損壞。主要參數 測試范圍 精度要求 測試條件Vce集射極電壓 150～3300V 150～500V±3%±1V。
測試的IGBT參數包括：ICES（漏流）、BVCES（耐壓）、IGESF（正向門極漏流）、IGESR（反向門極漏流）、VGETH（門檻電壓／閾值）、VGEON（通態門極電壓）、VCESAT（飽和壓降）、ICON（通態集極漏流）、VF（二極管壓降）、GFS（跨導）、rCE（導通電阻）等全直流參數, 所有小電流指標保證1%重復測試精度, 大電流指標保證2%以內重復測試精度。從檢測部分傳輸的數據經上位機處理后可自動列表顯示相應測試數據。
半導體元件全自動測試系統，可以元件在真正工作狀態下的電流及電壓，并測量重要參數的數據，再與原出廠指標比較，由此來判定元件的好壞或退化的百分比。每個電流模塊，都具有獨立的供電系統，以便在測試時，提供內部電路及電池組充電之用；同一測試條件的器件的測試曲線可以在軟件內進行對比，新測曲線可以與原測曲線進行對比。 可選購外部高壓模塊，執行關閉狀態參數測試如：各項崩潰電壓與漏電流測量達2KV。
3.3主要技術要求
3.3.1 動態參數測試單元技術要求
3.3.1.1 環境條件
1)海拔高度：海拔不超過1000m；
2)溫度：儲存環境溫度 -20℃～60℃；
3)工作環境溫度： -5℃～40℃；
4)濕度：20%RH 至 90%RH (無凝露，濕球溫度計溫度: 40℃以下)；
5)震動：抗能力按7級設防，地面抗震動能力≤0.5g；
6)防護：無較大灰塵，腐蝕或性氣體，導電粉塵等空氣污染的損害；
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