直讀光譜儀 TMP
每一條所發射的譜線的波長，取決于躍遷前后兩個能級之差。由于原子的能級很多，原子在被激發后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應遵循一定的規則(即“光譜選律”)，因此對特定元素的原子可產生一系列不同波長的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保持一定的強度比例。德國斯派克手持式X射線熒光光譜儀手持式ROHS分析儀（EDXRF）SPECTROxSORT
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直讀光譜儀 TMP
每一條所發射的譜線的波長，取決于躍遷前后兩個能級之差。由于原子的能級很多，原子在被激發后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應遵循一定的規則(即“光譜選律”)，因此對特定元素的原子可產生一系列不同波長的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保持一定的強度比例。德國斯派克手持式X射線熒光光譜儀手持式ROHS分析儀（EDXRF）SPECTROxSORT靈活的適用于各種類型的樣品檢測從高分子材料、塑料到金屬合金、需要分析的樣品可以是任何材質。光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度又與試樣中該元素的含量有關，因此又可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。
德國斯派克落地式火花直讀光譜分析儀SPECTROLAB M12
建立光學系統技術新標準
2007年SPECTROLAB創造了先鋒技術“混合動力”PMT/CCD雙檢測器光學系統，為高l端直讀光譜儀光學技術樹立了新的里程碑。自從斯派克公司從未間斷提升兩種技術至新的境界。
兩種創造性的光學系統技術
無論第三代“混合動力”雙檢測器光學系統還是全CCD光學系統都創造性地為金屬工業提供了杰出的光學分析性能。雙檢測器光學系統無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性，穩定性和精度的嚴格要求。使其尤其適于檢測新材料，痕量分析，夾雜物，高純金屬。大多數SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無需增加硬件設置。全CCD光學系統兼具驚人的重要性，穩定性和分析。便捷的ICAL智能標準化大大縮短儀器校正時間。這些性能恰恰是爐前過程控制或進出廠原材料質量檢驗需要的。不僅于此，SPECTROLAB的測定球墨鑄鐵中的碳元素含量技術逐步取代了紅外碳硫分析儀。美國證書編號：8，976，350，B2
高l端直讀光譜儀全譜技術
1.讀出系統：這一全新設計的部件提供高速，更高靈活性數據傳送功能。為SPECTRLAB的分析性能奠定基礎。用戶可以篩選“僅需要的”檢測器單元讀出信號，以達到很快的測量速度。安裝空間環境溫度：18到28（溫度改變速率：2度/h或更低）濕度：20to70%避開振動或灰塵水平高的位置2。對于科研和未知材料分析。讀出系統提供全波長范圍譜線掃描圖。PMT光電倍增管檢測器系統的單火花測算（SSE）技術實現了以前沒有的夾物分析精度。為鋼鐵質量精l'確測定提供有效的應用支持。
2.氣供給系統：新的全CCD光學系統的火花臺氣流向設計顯著提高了氣流清理金屬粉塵的能力，確保達成激發條件。同時SPECTRLAB的全新火花臺設計降低了氣的消耗量。經過簡單的培訓或視頻學習，即使沒有基礎的人員也可以上手使用。也使氣分配模塊位置更加優化。只有一根銅管連接火花臺和氣路單元，降低氣路漏氣的可能性。
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