IGBT測試裝置技術要求
（1）設備功能
IGBT模塊檢測裝置是用于IGBT的靜態參數測試。系統的測試原理符合相應的，系統為獨立式單元，封閉式結構，具有升級擴展潛能。
IGBT模塊檢測裝置是用于IGBT的靜態參數測試，在IGBT的檢測中，采用大電流脈沖對IGBT進行VCE飽和壓降及續流二極管壓降的檢測。3電流持續時間It：10~1000us單個脈沖或雙脈沖的總時間。為提供穩定的大電流脈沖，
檢修用IGBT測試儀價格
IGBT測試裝置技術要求
（1）設備功能
IGBT模塊檢測裝置是用于IGBT的靜態參數測試。系統的測試原理符合相應的，系統為獨立式單元，封閉式結構，具有升級擴展潛能。
IGBT模塊檢測裝置是用于IGBT的靜態參數測試，在IGBT的檢測中，采用大電流脈沖對IGBT進行VCE飽和壓降及續流二極管壓降的檢測。3電流持續時間It：10~1000us單個脈沖或雙脈沖的總時間。為提供穩定的大電流脈沖，采用了支撐電容補償及步進充電的方法，解決IGBT進行VCE飽和壓降及續流二極管壓降的檢測問題。
半導體元件除了本身功能要良好之外，其各項參數能否達到電路上的要求，必須定期測量，否則產品的質量特性很難保證，尤其是較大的功率元件，因具有耗損性，易老化及效率降低，因不平衡導致燒毀，甚至在使用中會發生。所以對新產品及使用中的元件參數的篩選及檢查更為重要。
半導體元件的每一個參數，依其極性的不同，都須要一個的測量電路，我公司所設計生產的半導體元件自動測試系統，具有一組繼電器形成的矩陣電路，依每個參數的定義，形成千變萬化的電路，再依元件的出廠規格加上額定的電流或電壓后，在極短的時間內將所須要的數據量測出來，且有些參數從量測的數據經運算即可得知其特性是否在規定范圍內。為提供穩定的大電流脈沖，采用了支撐電容補償及步進充電的方法，解決IGBT進行VCE飽和壓降及續流二極管壓降的檢測問題。
公司擁有一批長期從事自動控制與應用、計算技術與應用、微電子技術、電力電子技術方面的人才。公司裝備精良，具有的檢測手段，產品生產嚴格按照ISO9001∶2008標準質量管理體系運行，其、技術及工藝方面保持國內，部分產品達到國外同類產品的水平。
產品廣泛應用于電力、冶金自動化、軌道交通、電力電子新能源開發等行業，部分產品出口到歐美等發達。三、華科智源IGBT測試儀系統特征：
A：測量多種IGBT、MOS管
B：脈沖電流1200A，電壓5KV，測試范圍廣。
開通特性測試采用雙脈沖測試法。由計算機設定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測器件的測試要求值（一般為被測器件額定電壓的1/2），設定±VGG到測試要求值，計算機控制接通開關S1,并控制輸出被測雙脈沖觸發信號，開通和關斷被測器件兩次，被測器件次開通后，集電極電流IC上升，直至被測器件飽和導通且IC達到測試規定值時，關斷被測器件(設為t1時刻)，之后電感L經二極管（Q1內部二極管）續流，IC迅速減小，直至IC降為零時，第二次開通被測器件(設為t2時刻)，此后電感L中的電流向IC轉移，IC迅速上升(若L足夠大，t1～t2間隔足夠短，L中的電流可視為恒流），直至被測器件再次達到飽和導通時(設為t3時刻)，關斷被測器件。記錄下被測器件IC、VCE以及VGE在t2～t3之間的導通波形，其中，VCE采樣到示波器的CH1通道，IC取樣到示波器的CH2通道，VGE采樣到示波器的CH3通道，示波器通過光通訊方式將測試波形傳輸給計算機，由計算機對測試波形進行分析與計算，后顯示測試結果。大功率Igbt模塊測試系統簡介我公司所設計生產的半導體元件自動測試系統具備下列測試能力：☆可單機獨立操作，測試范圍達2000V及50A。
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