半導體元件除了本身功能要良好之外，其各項參數能否達到電路上的要求，必須定期測量，否則產品的質量特性很難保證，尤其是較大的功率元件，因具有耗損性，易老化及效率降低，因不平衡導致燒毀，甚至在使用中會發生。華科智源IGBT電參數測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試，廣泛應用于軌道交通，電動汽車，風力發電，
大功率IGBT測試儀價格
半導體元件除了本身功能要良好之外，其各項參數能否達到電路上的要求，必須定期測量，否則產品的質量特性很難保證，尤其是較大的功率元件，因具有耗損性，易老化及效率降低，因不平衡導致燒毀，甚至在使用中會發生。華科智源IGBT電參數測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試，廣泛應用于軌道交通，電動汽車，風力發電，焊機行業的IGBT來料選型和失效分析。所以對新產品及使用中的元件參數的篩選及檢查更為重要。
半導體元件的每一個參數，依其極性的不同，都須要一個的測量電路，我公司所設計生產的半導體元件自動測試系統，具有一組繼電器形成的矩陣電路，依每個參數的定義，形成千變萬化的電路，再依元件的出廠規格加上額定的電流或電壓后，在極短的時間內將所須要的數據量測出來，且有些參數從量測的數據經運算即可得知其特性是否在規定范圍內。
如何執行導通參數與漏電流的量測？
測試條件中待輸入的數字，必須依照元件生產廠所提供的規格來輸入，而測量結果，亦必須在其所規定的限額內，否則，便為不良品。
大功率I g b t模塊測試系統簡介
我公司所設計生產的半導體元件自動測試系統具備下列測試能力：
☆可單機獨立操作，測試范圍達2000V及50A。
☆外接大電流擴展裝置，檢測范圍可擴展1600A。
3.1開通時間Ton測試原理框圖
圖3-1開通時間測試原理框圖
其中：Vcc 試驗電壓源
±VGG 柵極電壓
C1 箝位電容
Q1 陪測器件（實際起作用的是器件中的續流二極管）
L 負載電感 ：100uH、200uH、500uH、1000uH自動切換
IC 集電極電流取樣電流傳感器
DUT 被測器件
開通時間定義（見下圖）：柵極觸發信號第二個脈沖上升的10%到集電極電流IC上升到10%的時間間隔為開通延遲時間td （on） ，集電極電流IC上升的10%到90%的時間間隔即為電流上升時間tr ，則ton= td （on）+tr
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