不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量，這一個過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。探測系統測量這些出來的二次X射線的能量及數量。然后儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量——每種元素的發射強度與樣品中的元素含量成正比，通過預先設置好的校正曲線計算出來，可顯示其含量。特點分析范圍：0.3%～99.99%測量時間：自適應測量精度：±0.1%測試環境：常溫常態.



 
探測器陣列：放置于焦平面，EDX-6000 微光斑黃金檢測儀哪里有，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。光譜儀的種類很多，分類方法也很多，根據光譜儀所采用的分解光譜的原理，可以將其分成兩大類：經典光譜儀和新型光譜儀。經典光譜儀是建立在空間色散（分光）原理上的儀器；新型光譜儀是建立在調制原理上的儀器，故又稱為調制光譜儀。 [1] 經典光譜儀依據其色散原理可將儀器分為：棱鏡光譜儀、衍射光柵光譜儀、 [2] 干涉光譜儀。




然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。 元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，因此，只要測出熒光X射線的波長或者能量，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外，熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。



 
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