能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特別研究與應用了里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，便攜式合金成分測試光譜儀，其中K軌道為接近核子，每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層（伊諾斯合金分析儀服務商）。在XRF分析法中，從光發射管里出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩定的離子。


 
1．把試樣在能量的作用下蒸發、原子化(轉變成氣態原子)，并使氣態原子的外層電子激發至高能態。當從較高的能級躍遷到較低的能級時，原子將釋放出多余的能量而發射出特征譜線。這一過程稱為蒸發、原子化和激發，需借助于激發光源來實現。2．把原子所產生的輻射進行色散分光，按波長順序記錄在感光板上，就可呈現出有規則的光譜線條，即光譜圖。系借助于攝譜儀器的分光和檢測裝置來實現。



合金分析是鑒定樣品化學成分的過程。使用X射線熒光（XRF）光譜儀，不僅能確定合號PMI（ material identification），而且能準確得到整個合金材料的元素組成。EDX9000A已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業，從航空航天測試，原材料分析，質量控制，冶煉，金屬加工，焊接，到廢料回收和分類篩檢等領域。蘇州英飛思科學儀器有限公司


 
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