膜厚儀 菲希爾膜厚儀出售

膜厚儀主要特點

測量范圍寬，可檢測元素范圍：Ti22–U92；

可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；

精度高、穩定性好；

強大的數據統計、處理功能；

NIST認證的標準片；

服務及支持。

膜厚儀參數介紹：

1.X射線激發系統

垂直下照式X射線光學系統

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W4-50kV，0-1.0mA

裝備有安全防射線光閘

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

2.膜厚儀準直器系統

單準直器組件、多準直器自動控制組件：多可同時裝配6種規格的準直器

多種規格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、 8、 12、13、20 mil等

即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等

即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm

測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm使用0.025 x 0.05 mm即1x2mil準直器在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm使用0.3mm即圓形12mil準直器

3.膜厚儀樣品室

開槽式樣品室樣品臺尺寸610mm x 610mmXY軸移動范圍標準：152.4 x 177.8mm程控 Z軸程控移動高度43.18mmXYZ軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制；XY軸手動控制和Z軸程序控制；XYZ三軸手動控制

4.膜厚儀樣品觀察系統

高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能計算機系統配置IBM計算機

惠普或愛普生彩色噴墨打印機分析應用軟件操作系統：Windows XP中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包

5.膜厚儀測厚范圍

可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。

基本分析功能采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品；

樣品種類：鍍層；可檢測元素范圍：Ti22 – U92；可同時測定5層/15種元素/共存元素校正；貴金屬檢測，如Au karat評價；材料和合金元素分析；材料鑒別和分類檢測；

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較；元素光譜定性分析。調整和校正功能

系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移測量自動化功能鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式

測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能樣品臺程控功能設定測量點連續多點測量

測量位置預覽圖表顯示統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、值、小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能，

系統安全監測功能，Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器

產品優勢：

1.、、長期穩定性

2.精確的分析帶來生產成本優化

3.精確測定元素厚度

4.優化的性能可滿足廣泛的元素測量

5.堅固的設計

6.可靠近生產線或在實驗室操作

7.生產人員易于使用

X熒光鍍層測厚儀CMI900 

利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。

CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀（膜厚儀）是結構緊湊、堅固、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。



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