開(kāi)通特性測(cè)試采用雙脈沖測(cè)試法。由計(jì)算機(jī)設(shè)定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測(cè)器件的測(cè)試要求值（一般為被測(cè)器件額定電壓的1/2），設(shè)定±VGG到測(cè)試要求值，計(jì)算機(jī)控制接通開(kāi)關(guān)S1，并控制輸出被測(cè)雙脈沖觸發(fā)信號(hào)，開(kāi)通和關(guān)斷被測(cè)器件兩次，被測(cè)器件次開(kāi)通后，集電極電流IC上升，直至被測(cè)器件飽和導(dǎo)通且IC達(dá)到測(cè)試規(guī)定值時(shí)，關(guān)斷被測(cè)器件(設(shè)為t1時(shí)刻)，之后電感L經(jīng)二極管（Q1內(nèi)部二極管）續(xù)流，IC迅速減小，直至IC降為零時(shí)，檢修用IGBT測(cè)試儀現(xiàn)貨供應(yīng)，第二次開(kāi)通被測(cè)器件(設(shè)為t2時(shí)刻)，檢修用IGBT測(cè)試儀，此后電感L中的電流向IC轉(zhuǎn)移，IC迅速上升(若L足夠大，檢修用IGBT測(cè)試儀價(jià)格，t1～t2間隔足夠短，L中的電流可視為恒流），直至被測(cè)器件再次達(dá)到飽和導(dǎo)通時(shí)(設(shè)為t3時(shí)刻)，關(guān)斷被測(cè)器件。記錄下被測(cè)器件IC、VCE以及VGE在t2～t3之間的導(dǎo)通波形，其中，VCE采樣到示波器的CH1通道，檢修用IGBT測(cè)試儀批發(fā)，IC取樣到示波器的CH2通道，VGE采樣到示波器的CH3通道，示波器通過(guò)光通訊方式將測(cè)試波形傳輸給計(jì)算機(jī)，由計(jì)算機(jī)對(duì)測(cè)試波形進(jìn)行分析與計(jì)算，后顯示測(cè)試結(jié)果。公司裝備精良，具有的檢測(cè)手段，產(chǎn)品生產(chǎn)嚴(yán)格按照ISO9001∶2008標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量管理體系運(yùn)行，其、技術(shù)及工藝方面保持國(guó)內(nèi)，部分產(chǎn)品達(dá)到國(guó)外同類(lèi)產(chǎn)品的水平。9）尖峰抑制電容用于防止關(guān)斷瞬態(tài)過(guò)程中的IGBT器件電壓過(guò)沖。?電容容量200μF?分布電感小于10nH?脈沖電流2kA  ?工作溫度室溫～40℃?工作濕度<70% 11）動(dòng)態(tài)測(cè)試?yán)m(xù)流二極管用于防止測(cè)試過(guò)程中的過(guò)電壓。?反向電壓  8000V(2只串聯(lián))?-di/dt大于2000A/μs?通態(tài)電流  1200A?壓降小于1V?浪涌電流大于20kA?反向恢復(fù)時(shí)間小于2μs?工作溫度室溫～40℃?工作濕度<70%12）安全工作區(qū)測(cè)試?yán)m(xù)流二極管?8環(huán)境要求
環(huán)境溫度：15～35℃
相對(duì)濕度：小于70%
大氣壓力：86Kpa～106Kpa
壓縮空氣：不小于0。反向電壓12kV(3只串聯(lián))?-di/dt大于2000A/μS?通態(tài)電流1200A?壓降小于1V?浪涌電流大于20kA?反向恢復(fù)時(shí)間小于2μS?工作溫度室溫～40℃?工作濕度<70%  檢修用IGBT測(cè)試儀批發(fā)-華科智源-檢修用IGBT測(cè)試儀由深圳市華科智源科技有限公司提供。行路致遠(yuǎn)，砥礪前行。深圳市華科智源科技有限公司致力成為與您共贏、共生、共同前行的戰(zhàn)略伙伴，更矢志成為電子測(cè)量?jī)x器具有競(jìng)爭(zhēng)力的企業(yè)，與您一起飛躍，共同成功! 產(chǎn)品：華科智源供貨總量：不限產(chǎn)品價(jià)格：議定包裝規(guī)格：不限物流說(shuō)明：貨運(yùn)及物流交貨說(shuō)明：按訂單