硅/硅微條探測器常用于帶電粒子測量，當探測器在加有一定反向偏壓并正常工作時，如果具有一定能量的帶電粒子注入硅探測器，由于粒子對半導體材料的電離作用，會產生大量的電子空穴對。由于每產生一對電子空穴對需要的電離能是一定的（約為3 eV），因此產生的總的電子空穴對數目與粒子在探測器中損失的能量成正比。硅探測器對電離產生的電子空穴對進行收集，得到的電信號幅度就正比于粒子在探測器中的能量損失，可以準確的測量帶電粒子能譜。同時，由于硅探測器對信號的時間響應較快，還可用于帶電粒子的定時測量。

硅微條探測器是在硅片表面通過蝕刻工藝，將硅片分割成多個獨立的有效探測區域，通過不同的信號來源判斷粒子位置和方向。

硅/硅微條探測器廣泛接受用戶定制，根據用戶需要提供合適的探測器。