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[供應(yīng)]XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)平臺(tái)-半導(dǎo)體研究所

更新時(shí)間:2022/11/13 10:01:28
XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)平臺(tái)-半導(dǎo)體研究所




XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)單晶XRD測(cè)試——廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所是廣東省科學(xué)院下屬骨干研究院所之一,主要聚焦半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的應(yīng)用技術(shù)研究,兼顧重大技術(shù)應(yīng)用的基礎(chǔ)研究,從事電子信息、半導(dǎo)體領(lǐng)域應(yīng)用基礎(chǔ)性、關(guān)鍵共性技術(shù)研究,以及行業(yè)應(yīng)用技術(shù)開(kāi)發(fā)。在做單晶X射線(xiàn)衍射(單晶XRD)測(cè)試時(shí),科學(xué)指南針工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,好多同學(xué)對(duì)單晶XRD不太了解,針對(duì)此,小編對(duì)網(wǎng)上單晶xrd常見(jiàn)問(wèn)答進(jìn)行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們。1.怎么分辨晶體能否測(cè)試?答:晶體是要規(guī)則,無(wú)明顯裂紋的晶體(且晶體不小于20微米)。2.怎么選擇合適的靶材?答:一般含有金屬原子的,優(yōu)先選擇鉬靶測(cè)試。純有機(jī)的,可能要選擇銅靶。3.什么時(shí)候選擇常溫或者低溫?答:這個(gè)要拿到晶體測(cè)試后,才能確定。一般有機(jī)和MOF類(lèi)可能需要選擇低溫。歡迎來(lái)電咨詢(xún)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所了解更多信息~XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè) XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)單晶XRD測(cè)試——廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所是廣東省科學(xué)院下屬骨干研究院所之一,主要聚焦半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的應(yīng)用技術(shù)研究,兼顧重大技術(shù)應(yīng)用的基礎(chǔ)研究,從事電子信息、半導(dǎo)體領(lǐng)域應(yīng)用基礎(chǔ)性、關(guān)鍵共性技術(shù)研究,XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)哪家好,以及行業(yè)應(yīng)用技術(shù)開(kāi)發(fā)。X射線(xiàn)物相分析X射線(xiàn)照射晶體物相產(chǎn)生一套特定的粉未衍射圖譜或數(shù)據(jù)D-I值。其中D-I與晶胞形狀和大小有關(guān),相對(duì)強(qiáng)度I/I0,吉林XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè),與質(zhì)點(diǎn)的種類(lèi)和位置有關(guān)。與人的手指紋相似,每種晶體物相都有自己的XPD譜。不同物相物質(zhì)即使混在一起,它們各自的特征衍射信息也會(huì)獨(dú)立出現(xiàn),互不干擾。據(jù)此可以把任意純凈的或混合的晶體樣品進(jìn)行定性或定量分析。 歡迎來(lái)電咨詢(xún)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所了解更多信息~XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)單晶XRD測(cè)試——廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所是廣東省科學(xué)院下屬骨干研究院所之一,主要聚焦半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的應(yīng)用技術(shù)研究,兼顧重大技術(shù)應(yīng)用的基礎(chǔ)研究,XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)平臺(tái),從事電子信息、半導(dǎo)體領(lǐng)域應(yīng)用基礎(chǔ)性、關(guān)鍵共性技術(shù)研究,以及行業(yè)應(yīng)用技術(shù)開(kāi)發(fā)。XRD用于定量分析是因?yàn)槲锵嘌苌渚(xiàn)的強(qiáng)度或相對(duì)強(qiáng)度與物相在樣品中的含量有關(guān)。隨著測(cè)試?yán)碚摷皽y(cè)試技術(shù)的不斷完善和發(fā)展,利用衍射花樣中的強(qiáng)度來(lái)分析物相在試樣中的含量,也得到了不斷地完善和發(fā)展。目前在實(shí)驗(yàn)室中較為常用的X射線(xiàn)定量相分析方法有外標(biāo)法、內(nèi)標(biāo)法和基體沖洗法即K值法。值得注意的是:X射線(xiàn)物相定量分析公式中,其理論基礎(chǔ)中假設(shè)了被測(cè)物相中的晶粒尺寸非常小,各相混合均勻,晶粒無(wú)擇優(yōu)取向,因此在實(shí)際應(yīng)用中,應(yīng)該在試樣制備及標(biāo)樣選擇過(guò)程中充分考慮上述假設(shè), 特別是制樣時(shí)應(yīng)避免重壓,減少擇優(yōu)取向。歡迎來(lái)電咨詢(xún)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所了解更多信息~XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)  XRD掠入射(GIXRD)檢測(cè)平臺(tái)-半導(dǎo)體研究所由廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所提供。行路致遠(yuǎn),砥礪前行。廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所致力成為與您共贏、共生、共同前行的戰(zhàn)略伙伴,更矢志成為技術(shù)合作具有競(jìng)爭(zhēng)力的企業(yè),與您一起飛躍,共同成功! 產(chǎn)品:半導(dǎo)體研究所供貨總量:不限產(chǎn)品價(jià)格:議定包裝規(guī)格:不限物流說(shuō)明:貨運(yùn)及物流交貨說(shuō)明:按訂單
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