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【聯系人】歐陽先生
簡要說明：高低溫循環、濕凍、濕熱（雙85）、試驗。是主要用與半導體行業（二極管，三極管。電阻），光伏行業的必備測試設備，用于測試半導體及光伏組件。常見的測試條件之一為：-40℃~+85℃ 50~200次，長1200H)、濕冷凍測試(85℃ 85%~-40℃ 10次，約240H )、濕熱測試 (85℃ 85%，1000H)，以確認半導體及光伏組件能夠承受高溫高濕之后隨之的負溫度影響
半導體試驗箱—雙85試驗箱/雙85（八五）高溫高濕 詳細說明
半導體試驗箱—雙85試驗箱/雙85（八五）高高濕溫箱
高低溫循環、濕凍、濕熱（雙85）、試驗。是主要用與半導體行業（二極管，三極管。電阻），光伏行業的必備測試設備，用于測試半導體及光伏組件。常見的測試條件之一為：-40℃~+85℃ 50~200次，長1200H)、濕冷凍測試(85℃ 85%~-40℃ 10次，約240H )、濕熱測試 (85℃ 85%，1000H)，以確認半導體（（二極管，三極管。電阻））及光伏組件能夠承受高溫高濕之后隨之的負溫度影響,以及對于溫度重復變化時引起的疲勞和熱失效，另外確定半導體器件（（二極管，三極管。電阻））及光伏組件曝露在高濕度下而產生的熱應力及能夠抵抗濕氣長期滲透之能力.其試驗設備設計與能力需滿足IEC61215、IEC61646 的相關溫濕度變化曲線的要求
半導體試驗箱-雙85試驗箱滿足相關規范：
本產品滿足IEC61215、IEC 61646、GB/T19394－2003、 GB/T9535－1998、GB/T6492－1986、GB/T6494、GB/T6497、SJ/T2196; IEC61345－1998; IEC61646、GB 10592—89、GB10586－89GB11158,GB10589,GB10592,GB/T10586, GB/T2423.1, GB/T2423.2, GB/T2423.3, GB/T2423.4 GJB150.3, GJB150.4, GJB150.9等相關半導體元器件及光伏組件標準
技術規格：
產品型號：B-TH-120D
內箱尺寸：（W*H*Dcm）45*60*45（另可按客戶要求外型尺寸：按客戶要求制造）
性能參數：
1.測試環境條件下：環境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內無試樣條件下
2.測試方法：GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備/GB/T 5170.5-1996 濕熱試驗設備（僅濕熱型）
3.溫度范圍：負載-40℃→+85℃ /（空載－60℃到150℃）
4.溫度波動：±0.5℃
5.溫度分布精度：±2.0℃
6.濕度范圍：20%～98%R.H
7.濕度偏差：±3.0%R.H（＞75%RH )±5.0%R.H（≤75%RH )
本公司還供應上述產品的同類產品：
半導體試驗箱：高低溫交變濕熱試驗箱，冷熱沖擊試驗箱，濕熱試驗箱、雙85試驗箱、雙85實驗箱、濕凍試驗箱、濕冷凍試驗箱、高溫高濕試驗箱、PCT試驗箱、精密高溫試驗箱等。
